Share on facebook
Share on twitter
Share on linkedin

Partikel Anti-elektron (Positron)

Keberadaan elektron seringkali dikaitkan dengan proton. Hal ini ditinjau dari kedudukannya yang sering dianggap sama dengan proton ketika suatu atom tidak bermuatan sehingga dianggap suatu pasangan oleh sebagian orang. Namun, hal tersebut keliru sebab baik elektron maupun proton memiliki massa dan spin yang berbeda. dan bahkan elektron cenderung memiliki kesamaan (baik spin dan massa) dengan partikel antielektron yang dikenal dengan positron.

Partikel Antielektron

Positron termasuk partikel bermuatan positif yang menjadi bagian dari reaksi inti. Positron (e+) merupakan partikel yang antielektron namun memiliki massa dan spin yang sama dengan elektron (e’) tetapi muatannya berbeda. 

Secara teoritis, sejarah positron pertama kali dikemukakan oleh Paul Dirac (1928). Namun, pada tahun 1932 kajian mengenai positron dapat mudah diterima berkat penelitian yang dilakukan oleh Carl D. Anderson. Sehingga ia berhasil meraih penghargaan hadiah Nobel (1936). 

Penelitiannya itu melibatkan sinar kosmik yang menemukan sebuah partikel yang berdasarkan medan magnet dan listriknya memiliki sifat yang berbeda dengan elektron, namun dalam segi massa memiliki nilai yang sama besar. 

Sehingga partikel ini dinamakan sebagai positron yang memiliki kemiripan dengan elektron hanya saja muatannya berbeda. Positron dapat disebut juga sebagai antipartikel dari partikel elektron atau beta +. 

Positron mampu terikat oleh elektron, dan mampu membentuk ikatan semi stabil yang disebut positronium. Positron dan elektron jika bertumbukan akan menghasilkan foton pada peristiwa anihilasi. 

Akibat peristiwa anihilasi tersebut, mengakibatkan kondisi energi rendah, sehingga tumbukan ini dapat menghasilkan sinar gamma.

Elektron yang berinteraksi dapat berasal dari elektron bebas (free electron) dan elektron yang terikat pada ion suatu atom (bound electron).

Sumber positron yang biasanya digunakan adalah Na-22 yang berupa senyawa CH3COONa atau NaCI. Kegunaannya adalah untuk mendeteksi cacat material pada daerah permukaan (surface) dan sub permukaan (sub surface) dengan jenis cacat terbuka maupun interna yang berukuran mikro.